domenica, 05 febbraio 2012

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Tecnologie

Caratterizzazione

Caratterizzazione
Le tecniche di caratterizzazione sono uno strumento trasversale a tutte le tecnologie di produzione e di sintesi dei materiali nanostrutturati e rappresentano un feedback necessario alla loro ottimizzazione ed alla verifica della loro qualità.

Descrizione tecnologia

La realizzazione di prodotti nanotecnologici comporta la necessità di avere a disposizione tecniche di analisi e caratterizzazione specifiche. L’analisi dei materiali nanostrutturati richiede una risoluzione molto elevata, al limite nel dominio dei nanometri, per ottimizzare il processo di produzione e per certificare il risultato finale ottenuto. Alcune proprietà dei materiali cambiano radicalmente quando sono dovute a presenza di nanoparticelle o nanostrutture superficiali e di conseguenza la loro misura è possibile solo con l’utilizzo di strumentazione dedicata. I laboratori NanoFAB sono dotati di un ampio range di tecniche di misura che rendono possibile la caratterizzazione superficiale con risoluzione nanometrica. Le proprietà studiate vanno dalla topografia superficiale a proprietà chimico-fisiche come composizione chimica, durezza/elasticità locali, proprietà elettriche, indice di rifrazione ecc.

NanoFAB mette a disposizione dei propri clienti la strumentazione e le competenze presenti al suo interno relativamente a tutte le tecniche di caratterizzazione ed è in grado di fornire il supporto necessario per lo studio di sistemi specifici con singole misure o con studi di caratterizzazione avanzata multi-tecnica, includendo la preparativa campioni e diversi trattamenti come ad esempio trattamenti termici.

Descrizione facilities/strumenti/competenze

Gli strumenti di caratterizzazione si possono schematicamente dividere in strumenti per:

  • Caratterizzazione chimica/composizionale con spettrometro a scarica GDOES, spettrometri FT-IR, ATR e UV-Vis, spettrometro ICP ottico, spettrometro µ-Raman confocale con possibilità di eseguire mappe superficiali su aree massime di 200mmx200mm, microanalisi EDXS su microscopio elettronico a scansione (SEM).
  • Caratterizzazione fisico-meccanica tramite prove di nanoindentazione e microscratch per la misura di film sottili, tribometro a rotazione pin-on-disc per test di usura, dinamometro universale per test di trazione, reometro rotazionale per la misura di proprietà viscoelastiche, calorimetro per misure di termogravimetria e calorimetria a scansione differenziale, permeabilimetro per la misura della barriera a gas Ossigeno e Anidride Carbonica, picnometro a Elio per misure di porosità dei materiali, nebbia salina per test di resistenza a corrosione, spettroscopia di impedenza elettrochimica EIS per test di corrosione, misure di resistività e resistività superficiale.
  • Caratterizzazione morfologica mediante microscopia a forza atomica con risoluzione laterale e verticale nanometrica, profilometria meccanica e ottica interferenziale, microscopia elettronica a scansione in alto e basso vuoto.
  • Caratterizzazione ottica con microscopio ottico metallografico, microscopia confocale spettroscopica, ellissometria spettroscopica, banco ottico con spettrofluorimetro per misure di fotoluminescenza.

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