giovedì, 17 maggio 2012

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ProdottoTecnologiaDescrizioneStatus della tecnologiaMercati di applicazione
Analisi chimicheCaratterizzazione FT/IR, UV/Vis, ICP ottico, m/Raman, EDXSDisponibileServizi
Angolo di contattoCaratterizzazioneDefinizione dell'angolo di contatto superficiale per misurare caratteristche di idrofobicità e idrofilicità su materialiDisponibileServizi
Caratterizzazione elettrochimicaCaratterizzazioneMisure di impedenza elettrochimica (EIS), Misure con tecniche elettrochimiche e con microbilancia elettrochimica al cristallo di quarzo, per studio e caratterizzazione di sensori elettrochimici micro-nano gravimetriciDisponibileServizi
Caratterizzazione microelettronicaCaratterizzazioneMisure di resistività di film sottili con tecnica “Four point probe” , Misure di impedenza e caratterizzazione dielettrica di materiali, Caratterizzazione elettrica di dispositivi elettroniciDisponibileServizi
Glow discharge optical emission Spectrometry GDOES CaratterizzazioneAnalisi composizionale e profili di concentrazione su materiali solidiDisponibileServizi
MicroscopiaCaratterizzazioneMicroscopia ottica (metallografia), confocale, AFM, SEM, mappature m-RamanDisponibileServizi
Microscopia a scansione di sondaCaratterizzazioneFM, LFM, EFM, KPM, SCM, …DisponibileServizi
Misura di proprietà meccaniche superficiali e di volumeCaratterizzazioneMicrodurometro, Pin-on-disc, Nanoindentatore, Microscratch, Dinamometro, AFAMDisponibileServizi
Misure di fotoluminescenza CaratterizzazioneMisure puntuali e mappe di fotoluminescenza (confocale) Misure di fotoluminescenza (su banco ottico)DisponibileServizi
Misure di permeabilità CaratterizzazionePermeabilità a Ossigeno ed Anidride carbonicaDisponibileServizi
Misure di proprietà viscoelastiche CaratterizzazioneMisure di proprietà viscoelastiche con reometro rotazionaleDisponibileServizi
Misure per MicroelettronicaCaratterizzazione Implementazione di banchi di misura “ad hoc”DisponibileServizi
OtticaCaratterizzazioneEllissometro spettroscopico, SNOMDisponibileServizi
ProfilometriaCaratterizzazioneProfilometria ottica, meccanica, AFMDisponibileServizi
Rilevazione ibridizzazione DNACaratterizzazioneDefinizione di una metodica per la rilevazione elettrochimica dell’ibridizzazione del DNA        Implementazione di banchi di misura “ad hoc”DisponibileServizi

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